併催企画

● 基調講演   参加無料

小宮山　宏 株式会社三菱総合研究所　理事長
田中　栄氏

未来予測2013-2025
―【クラウド】が拓く計量計測・検査・センサ機器の新しい時代―

日程： 2012年10月10日（水）13：30～15：00
会場： 東京ビッグサイト　レセプションホールA
主催： 一般社団法人日本計量機器工業連合会 、
一般社団法人日本検査機器工業会、
フジサンケイビジネスアイ
企画： 株式会社アクアビット
●講演概要

【クラウド・コンピューティング】は第三世代に向かう「コンピューター革命」である。「クラウド」によって計量計測機器の新しい時代が幕を開けようとしている。「ビッグデータ」への注目が高まる中、センサーやメーターはその「主役」になる。そのことを来場者に気づいて貰い、業界全体に対する期待と注目度を高める。

「ビッグデータ」がなぜ重要なのか?センサーネットワークがどのように使われるようになるか? など、各分野における具体的な例を挙げながらわかりやすく解説する。「デジタル」と「ネットワーク」によってパラダイムが変わろうとしていること。これからは”安くていいもの”を追求するばかりではなく、ビジネスモデルの転換が必要であることを実感して貰う。

●ナビゲーター

「未来予測レポート」シリーズ著者
株式会社アクアビット　代表取締役
チーフ・ビジネスプランナー
田中　栄

●ゲスト
上田　直亜様
オムロン株式会社　マイクロデバイス事業推進本部　技術開発部
ＭＥＭＳアプリケーション開発課　主事
鎌谷　直之様
株式会社スタージェン　情報解析研究所　所長
理化学研究所 ゲノム医科学研究センター　前センター長
東京女子医科大学 膠原病リウマチ痛風センター　客員教授

基調講演お申込み

● 新技術・新製品セミナー

検査業界の最新動向・技術を紹介する無料セミナー

※聴講をご希望の方は、直接会場へお越しください。（申込不要・聴講無料）

会期： 10月10日（水）～12日（金）
会場： 「JIMA2012」内特設会場
10月10日（水）
13：00～13：45

（株）島津製作所

「X線検査の基礎から応用まで最新CT装置による観察応用事例の解説」

講演者：原田　大輔 氏
14：00～14：45

日本マテック（株）

「最新の電磁超音波EMATの基礎、実用性と応用範囲」

講演者：松島　勤 氏
15：00～15：45

ペリージョンソン　ラボラトリー　アクレディテーション　インク

「検査機器のトレーサビリティと不確かさ（検査機関の内部精度管理の充実）」

講演者：國富　佳夫 氏
10月11日（木）
13：00～13：45

マークテック（株）

「新技術採用の探傷システムについて」

講演者： 栗原　一博 氏　※競合他社関係者の参加はご遠慮下さい。
14：00～14：45

日本マテック（株）

「電磁超音波EMATによる薄板レーザー溶接探傷」

講演者：松島　勤 氏
15：00～16：30

日本フェルスター（株）

「新型・熱誘導磁束式サーモグラフィ探傷装置によるビレットの品質保証」

講演者：ドイツ・フェルスター社　取締役　TS事業本部長　Dr.Schroeder氏
10月12日（金）
13：00～13：45

（株）IHI検査計測

「特殊ひずみ測定～各種残留応力、高温ひずみの測定～」

講演者：技師長　三上　隆男 氏
14：00～14：45

日本マテック（株）

「電磁超音波EMATによるドライ探傷自動装置のメリット」

講演者：松島　勤 氏
15：00～15：45

キヤノンマーケティングジャパン（株）

「米国Xradia社製CT装置のご紹介」

講演者：青木　優 氏（Canon MJ 在籍）

● 主催者企画

JIMAプラザ

JIMA（日本検査機器工業会）では、業界の健全な発展と振興、さらにはよりよいユーザーへのサービス強化を目指した様々な活動を行っています。JIMAプラザではこれらの活動成果の一部をご紹介し、より多くの方にご理解頂けるように技術セミナーと3つのコーナーを設けたプラザを開設いたします。

アカデミックコーナー

大学・研究機関による最新研究成果の発表コーナーです。

＜出展者＞

一般社団法人応用力学研究所

「表面電位測定によるスポット溶接品質の非破壊評価」

独立行政法人国立文化財機構　奈良文化財研究所

「木造文化財の年輪年代測定用マイクロフォーカスX線CT装置」

独立行政法人産業技術総合研究所

「物体内外部の寸法、形状を高精度で測定のできるX線CT装置の開発」

東京大学　精密工学専攻　鈴木・大竹研究室

「X線CT装置を用いた形状測定の高精度化に関するソフトウェア技術」

栃木県産業技術センター

「Simple CT-image Viewer」

試験片コーナー

検査に重要な試験片を供給しています。JIS規格でありながら市販されていないものの製作・販売、入手しにくい海外規格品の輸入・販売。規格がないものは設計・規格化から行っています。

  • X線用解像度チャート：サブミクロンの分解能確認用試験片
  • 食品異物検査用の様々な材質、寸法の異材基準試験片
  • 磁粉探傷試験用規格試験片 ----- ASTM、ISO
  • 浸透探傷用海外規格試験片 ----- JIS、ISO
  • 渦流探傷用試験片 ------------- JIMA
  • 超音波探傷用イージーチェッカー

PLコーナー

より信頼性の高い品質管理のもとで製造された検査機器を提供できるように、製造者のPL認識を高めようと安全ガイドブックを作成したり、PLシールを製作し、会員にのみ販売しています。

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